EyeTech粒度粒形分析儀集成了先進的LOT（激光光阻法）與專業的圖像處理識別技術，提供樣品粒度、粒形和濃度數據等完整的顆粒表征。

• 獨特的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析；

• 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料；

• 其測量結果與顆?；蚪橘|的物理光學特性無關。

EyeTech粒度粒形分析儀卓越的靈活性可為用戶提供：

• 監測動力學過程

• 通過記錄大小vs形狀繪制多維數據

• 分析復雜數據以反應分布中的次要分布

• 通過從數據庫中調用記錄圖片來識別分布中的單個粒子

• 生成標準體積和數量分布結果

激光光阻測量技術與視頻分析生成的綜合信息，可通過直觀的數據報告軟件輕松訪問。 結果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息。 軟件可以輕松進行數據比較，從而可以多圖疊加顯示或編輯數據對比表。 只需單擊鼠標，便可在WORD文檔中生成示例報告。 該文件包括有關樣品制備，尺寸和形狀結果的信息，并附有樣品的圖像或視頻：

• 自動生成測量報告

• 定制實時圖表

• 方便重新處理存儲的圖像

• 設定多個用戶級別

• 安裝向導輕松啟動

• 符合21 CFR Part 11審計追蹤處理

EyeTech是一個模塊化測量系統，可以安裝多種不同的測試單元。 隨著快速更換測量單元，這款多功能儀器可以分析液體，乳劑，干粉，纖維，磁性顆粒，加熱液體和氣霧劑中的顆粒。這種應用導向的測量方法可確保您的樣品根據其特定性質進行測量。

• 獨特的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析

• 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料

• 其測量結果與顆?；蚪橘|的物理光學特性無關

與溶解和結晶研究相關的粒度分析-1

粒徑分析中的數量和體積分布-2

使用粒度分析研究動力學過程-4

非球形顆粒的粒度表征-應用3

• ACM-101 磁力攪拌樣品槽

• ACM-102 機械攪拌樣品槽

• ACM-104 流通樣品槽

• ACM-104L 纖維流通樣品槽

• ACM-106 氣溶膠流通樣品槽

• ACM-108 微流通樣品槽

• ACM-110 顯微鏡載玻樣品槽

• ACM-112 粉末自由下落樣品槽

• AC-10 氣溶膠流量控制單元

• LFC-101 液體流量控制器

• PD-10 粉體分散器